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Als `!Messsystem`! bezeichnet man die Gesamtheit von `F33f`_`[Messgerät`:/page/entry.mu`zim=wikipedia_de_all_nopic_2026-01.zim|entry_path=Messgerät]`_`f bzw. `F33f`_`[Messmittel`:/page/entry.mu`zim=wikipedia_de_all_nopic_2026-01.zim|entry_path=Messmittel]`_`f, `F33f`_`[Mensch`:/page/entry.mu`zim=wikipedia_de_all_nopic_2026-01.zim|entry_path=Mensch]`_`f und `F33f`_`[Umwelt`:/page/entry.mu`zim=wikipedia_de_all_nopic_2026-01.zim|entry_path=Umwelt]`_`f.

Aufgrund vieler möglicher Ursachen ist es grundsätzlich nicht möglich, fehlerfrei zu messen, das heißt das Messsystem kann die `F33f`_`[Messgröße`:/page/entry.mu`zim=wikipedia_de_all_nopic_2026-01.zim|entry_path=Messgröße]`_`f nicht fehlerfrei erfassen. Die Abweichung eines gemessenen Wertes vom `F33f`_`[wahren Wert`:/page/entry.mu`zim=wikipedia_de_all_nopic_2026-01.zim|entry_path=Wahrer_Wert]`_`f der Messgröße wurde früher Messfehler genannt. Heute wird nach `F33f`_`[DIN 1319`:/page/entry.mu`zim=wikipedia_de_all_nopic_2026-01.zim|entry_path=DIN_1319]`_`f-1:1995 der Begriff `F33f`_`[Messabweichung`:/page/entry.mu`zim=wikipedia_de_all_nopic_2026-01.zim|entry_path=Messabweichung]`_`f verwendet.

Die `F33f`_`[Messunsicherheit`:/page/entry.mu`zim=wikipedia_de_all_nopic_2026-01.zim|entry_path=Messunsicherheit]`_`f ist ein `F33f`_`[Schätzwert`:/page/entry.mu`zim=wikipedia_de_all_nopic_2026-01.zim|entry_path=Schätzwert]`_`f, der angibt, wie groß der Abstand des gemessenen zum wahren Wert der Messgröße sein kann. Als `F33f`_`[Querempfindlichkeit`:/page/entry.mu`zim=wikipedia_de_all_nopic_2026-01.zim|entry_path=Querempfindlichkeit]`_`f bezeichnet man die `F33f`_`[Empfindlichkeit`:/page/entry.mu`zim=wikipedia_de_all_nopic_2026-01.zim|entry_path=Empfindlichkeit_(Technik)]`_`f eines Messsystems für sekundäre, d. h. nicht primär zu messende Messgrößen.

Die `F33f`_`[Genauigkeit`:/page/entry.mu`zim=wikipedia_de_all_nopic_2026-01.zim|entry_path=Genauigkeit]`_`f des Messsystems wie das Ergebnis und die `F33f`_`[Qualität`:/page/entry.mu`zim=wikipedia_de_all_nopic_2026-01.zim|entry_path=Qualität]`_`f einer `F33f`_`[Messung`:/page/entry.mu`zim=wikipedia_de_all_nopic_2026-01.zim|entry_path=Messung]`_`f werden von verschiedenen Faktoren wie z. B.

• Art und `F33f`_`[Alter`:/page/entry.mu`zim=wikipedia_de_all_nopic_2026-01.zim|entry_path=Materialermüdung]`_`f des Messmittels oder Messgerätes sowie dessen Nutzungshäufigkeit

• vorhandene `F33f`_`[Umgebungstemperatur`:/page/entry.mu`zim=wikipedia_de_all_nopic_2026-01.zim|entry_path=Temperatur]`_`f, `F33f`_`[Luftströmung`:/page/entry.mu`zim=wikipedia_de_all_nopic_2026-01.zim|entry_path=Luftzug]`_`f oder `F33f`_`[Windgeschwindigkeit`:/page/entry.mu`zim=wikipedia_de_all_nopic_2026-01.zim|entry_path=Windgeschwindigkeit]`_`f

• Art der `F33f`_`[Interaktionen`:/page/entry.mu`zim=wikipedia_de_all_nopic_2026-01.zim|entry_path=Interaktion]`_`f zwischen Mensch und Messmittel bzw. Messgerät

• `F33f`_`[Parallaxe`:/page/entry.mu`zim=wikipedia_de_all_nopic_2026-01.zim|entry_path=Parallaxe]`_`f

und vielen anderen Faktoren mehr oder weniger stark beeinflusst, weshalb sich in der `F33f`_`[Metrologie`:/page/entry.mu`zim=wikipedia_de_all_nopic_2026-01.zim|entry_path=Metrologie]`_`f (`F33f`_`[Messtechnik`:/page/entry.mu`zim=wikipedia_de_all_nopic_2026-01.zim|entry_path=Messtechnik]`_`f), dem `F33f`_`[Qualitätsmanagement`:/page/entry.mu`zim=wikipedia_de_all_nopic_2026-01.zim|entry_path=Qualitätsmanagement]`_`f (`F33f`_`[Qualitätssicherung`:/page/entry.mu`zim=wikipedia_de_all_nopic_2026-01.zim|entry_path=Qualitätssicherung]`_`f) wie auch in `F33f`_`[Six Sigma`:/page/entry.mu`zim=wikipedia_de_all_nopic_2026-01.zim|entry_path=Six_Sigma]`_`f verschiedene Methoden zur Kontrolle und Überwachung von Messsystemen etabliert haben.

Dazu zählen u. a. die wiederholte `F33f`_`[Eichung`:/page/entry.mu`zim=wikipedia_de_all_nopic_2026-01.zim|entry_path=Eichung]`_`f, `F33f`_`[Kalibrierung`:/page/entry.mu`zim=wikipedia_de_all_nopic_2026-01.zim|entry_path=Kalibrierung]`_`f und `F33f`_`[Justierung`:/page/entry.mu`zim=wikipedia_de_all_nopic_2026-01.zim|entry_path=Justierung]`_`f von Messgeräten innerhalb fest vorgegebener `F33f`_`[Toleranzen`:/page/entry.mu`zim=wikipedia_de_all_nopic_2026-01.zim|entry_path=Toleranz]`_`f oder auch die Analyse der Prozessfähigkeit des gesamten `F33f`_`[Messprozesses`:/page/entry.mu`zim=wikipedia_de_all_nopic_2026-01.zim|entry_path=Messprozess]`_`f inklusive des Messsystems, genannt `F33f`_`[Messsystemanalyse`:/page/entry.mu`zim=wikipedia_de_all_nopic_2026-01.zim|entry_path=Messsystemanalyse]`_`f.

Mögliche Ursachen für Messabweichungen bei Messsystemen sind zum einen meist beeinflussbare, `F33f`_`[systematische Fehler`:/page/entry.mu`zim=wikipedia_de_all_nopic_2026-01.zim|entry_path=Systematische_Fehler]`_`f, wie beispielsweise

• `F33f`_`[Messgerätefehler`:/page/entry.mu`zim=wikipedia_de_all_nopic_2026-01.zim|entry_path=Messgerätefehler]`_`f

• `F33f`_`[Out of Specification`:/page/entry.mu`zim=wikipedia_de_all_nopic_2026-01.zim|entry_path=Out_of_Specification]`_`f

• `F33f`_`[Achsneigung`:/page/entry.mu`zim=wikipedia_de_all_nopic_2026-01.zim|entry_path=Achsneigung]`_`f

• `F33f`_`[Indexfehler`:/page/entry.mu`zim=wikipedia_de_all_nopic_2026-01.zim|entry_path=Indexfehler]`_`f und `F33f`_`[Parallaxenfehler`:/page/entry.mu`zim=wikipedia_de_all_nopic_2026-01.zim|entry_path=Parallaxenfehler]`_`f

zum anderen oft nicht beeinflussbare, `F33f`_`[zufällige Fehler`:/page/entry.mu`zim=wikipedia_de_all_nopic_2026-01.zim|entry_path=Zufälliger_Fehler]`_`f wie z. B. `F33f`_`[Luftfeuchtigkeit`:/page/entry.mu`zim=wikipedia_de_all_nopic_2026-01.zim|entry_path=Luftfeuchtigkeit]`_`f, `F33f`_`[Luftunruhe`:/page/entry.mu`zim=wikipedia_de_all_nopic_2026-01.zim|entry_path=Luftunruhe]`_`f oder `F33f`_`[thermisches Rauschen`:/page/entry.mu`zim=wikipedia_de_all_nopic_2026-01.zim|entry_path=Thermisches_Rauschen]`_`f.

Mit Offset werden `*konstant-systematische`* Messfehler eines Messsystems bezeichnet, `F33f`_`[Trend`:/page/entry.mu`zim=wikipedia_de_all_nopic_2026-01.zim|entry_path=Trend_(Statistik)]`_`f oder Drift bezeichnen ansteigende oder abfallende Messfehler eines Messsystems.

>>Siehe auch

• `F33f`_`[Fehlergrenze`:/page/entry.mu`zim=wikipedia_de_all_nopic_2026-01.zim|entry_path=Fehlergrenze]`_`f, `F33f`_`[Fehlerrechnung`:/page/entry.mu`zim=wikipedia_de_all_nopic_2026-01.zim|entry_path=Fehlerrechnung]`_`f und `F33f`_`[Fehlerfortpflanzung`:/page/entry.mu`zim=wikipedia_de_all_nopic_2026-01.zim|entry_path=Fehlerfortpflanzung]`_`f

• `F33f`_`[Signifikante Stellen`:/page/entry.mu`zim=wikipedia_de_all_nopic_2026-01.zim|entry_path=Signifikante_Stellen]`_`f

• `F33f`_`[Genauigkeitsklasse`:/page/entry.mu`zim=wikipedia_de_all_nopic_2026-01.zim|entry_path=Genauigkeitsklasse]`_`f

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